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冷热冲击测试标准

日期:2019-12-08 14:55

1. GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2. GB/T2423.2-2001;

3. GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. 国军标GJB150.3-86;

5. 国军标GJB150.4-86;

6. 国军标GJB150.5-86;

7. GJB150.5-86温度冲击试验;

8. GJB360.7-87温度冲击试验;

9. GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10. SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;

11. 满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

12. GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

13. GB/T 2423.22-2002温度变化;

14. QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

15. EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

冷热冲击测试标准

以上未提到的,关于冷热冲击测试中,引起温度变化及温度变化的现场条件在“GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化”中有提到:

温度变化的现场条件

电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。

下列情况下,可预见快速的温度变化:


    ——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境,或相反情况时;

——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时;

——安装于外部的机载设备中;

——在某些运输和贮存条件下。

通电后设备中会产生高的温度梯度,由于温度变化,元器件会经受应力,例如,在大功率的电阻器旁边,辐射会引起邻近元器件表面温度升高,而其他部分仍然是冷的。

当冷却系统通电时,人工冷却的元器件会经受快速的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的快速温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。